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臺(tái)式多晶X射線衍射儀(XRD)
臺(tái)式多晶X射線衍射儀(XRD)
臺(tái)式多晶X射線衍射儀BRAGG110.png
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儀器簡(jiǎn)介

XRD的全稱是X-Ray Diffraction,即X射線衍射。這是一種通過對(duì)粉末、單晶或多晶體等塊體檢測(cè)材料等樣品進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息,是目前研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)最有力的方法。

臺(tái)式多晶X射線衍射儀是探測(cè)晶體材料物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析儀器,可以對(duì)晶體材料物質(zhì)進(jìn)行包括定性定量功能在內(nèi)的多種分析應(yīng)用,是材料分析領(lǐng)域重要技術(shù)手段。臺(tái)式多晶X射線衍射儀在自然科學(xué)和技術(shù)科學(xué)中的應(yīng)用范圍遍及廣泛領(lǐng)域,在諸多以材料科學(xué)為基礎(chǔ)的眾多學(xué)科、工業(yè)行業(yè)中都有重要的應(yīng)用,是理工科院校和涉及材料研究、生產(chǎn)工藝部門、廠礦實(shí)驗(yàn)室的重要不可或缺的大型分析儀器設(shè)備。本產(chǎn)品利用X射線照射晶體物質(zhì)產(chǎn)生X射線衍射的原理,采用準(zhǔn)聚焦設(shè)計(jì)光路來實(shí)現(xiàn)對(duì)被照射樣品的衍射幀收集,進(jìn)而轉(zhuǎn)化成標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜做定性定量分析。

儀器特點(diǎn)

?

光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器

面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器??

高靈敏,可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù) ?

動(dòng)態(tài)范圍大 ?

雙閾值

抗強(qiáng)輻射長(zhǎng)時(shí)照射,長(zhǎng)壽命

大角度弧形探測(cè)器

同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像,同時(shí)收集y角度信息
探測(cè)器至樣品距離:150mm
多片探測(cè)器全角度無縫覆蓋

固定測(cè)角儀系統(tǒng)??

同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像??

2D成像,同時(shí)收集y角度信息

支持多種數(shù)據(jù)采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜


型號(hào)參數(shù)


型 號(hào) BRAGG 110
X射線管 種類 Cu靶(靶材可選)金屬陶瓷管
焦點(diǎn) 1×10mm 點(diǎn)/線可互換
X射線發(fā)生器 最大輸出 600W
管電壓 15~40kV,1kV/Step
管電流 5~15mA,1mA/Step
管電壓、管電流穩(wěn)定度 ≤0.01%(電源低壓浮動(dòng)10%)
測(cè)角儀 測(cè)角儀結(jié)構(gòu) θ/2θ
衍射光路幾何 Bragg-Brentano / Debye-Scherrer 可切換
測(cè)角儀半徑 150mm
掃描/照相角度范圍 0~90°(θ) ; -3~150°(2θ)
工作方式 單幀/多幀曝光
2θ角重復(fù)精度 ≤±0.001°
測(cè)量準(zhǔn)確度 ±0.02°
探測(cè)器 類型 混合像素光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器
像素尺寸 70×70μm2
單片面積 20.1×20.1mm2
噪聲
能量分辨率 1keV
數(shù)量 BRAGG 110-11片
最大線性計(jì)數(shù) 2.6×106cps/pixel
機(jī)柜 機(jī)柜尺寸(mm) (長(zhǎng))770×(寬)520×(高)800
整機(jī)重量(kg) 135
輻射劑量 ≤0.2μSv/h(未扣除天然本底)
安全措施 門聯(lián)鎖保護(hù)/功率保護(hù)/過熱保護(hù)
濾波器 Ni濾片 對(duì)應(yīng)Cu靶
綜合指標(biāo) 整機(jī)綜合穩(wěn)定度 ≤0.2%


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