儀器簡(jiǎn)介
XRD的全稱是X-Ray Diffraction,即X射線衍射。這是一種通過對(duì)粉末、單晶或多晶體等塊體檢測(cè)材料等樣品進(jìn)行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息,是目前研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)最有力的方法。
臺(tái)式多晶X射線衍射儀是探測(cè)晶體材料物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析儀器,可以對(duì)晶體材料物質(zhì)進(jìn)行包括定性定量功能在內(nèi)的多種分析應(yīng)用,是材料分析領(lǐng)域重要技術(shù)手段。臺(tái)式多晶X射線衍射儀在自然科學(xué)和技術(shù)科學(xué)中的應(yīng)用范圍遍及廣泛領(lǐng)域,在諸多以材料科學(xué)為基礎(chǔ)的眾多學(xué)科、工業(yè)行業(yè)中都有重要的應(yīng)用,是理工科院校和涉及材料研究、生產(chǎn)工藝部門、廠礦實(shí)驗(yàn)室的重要不可或缺的大型分析儀器設(shè)備。本產(chǎn)品利用X射線照射晶體物質(zhì)產(chǎn)生X射線衍射的原理,采用準(zhǔn)聚焦設(shè)計(jì)光路來實(shí)現(xiàn)對(duì)被照射樣品的衍射幀收集,進(jìn)而轉(zhuǎn)化成標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜做定性定量分析。
儀器特點(diǎn)
?
光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器
面陣型光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器??
高靈敏,可實(shí)現(xiàn)單光子計(jì)數(shù) ?
動(dòng)態(tài)范圍大 ?
雙閾值
抗強(qiáng)輻射長(zhǎng)時(shí)照射,長(zhǎng)壽命
大角度弧形探測(cè)器
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像
2D成像,同時(shí)收集y角度信息
探測(cè)器至樣品距離:150mm
多片探測(cè)器全角度無縫覆蓋
固定測(cè)角儀系統(tǒng)??
同時(shí)獲取-3°~150°2θ角度范圍圖像??
2D成像,同時(shí)收集y角度信息
支持多種數(shù)據(jù)采集模式
固定照相模式獲取2D衍射幀
快掃模式獲取1D衍射譜
型號(hào)參數(shù)
型 號(hào) | BRAGG 110 | |
X射線管 | 種類 | Cu靶(靶材可選)金屬陶瓷管 |
焦點(diǎn) | 1×10mm 點(diǎn)/線可互換 | |
X射線發(fā)生器 | 最大輸出 | 600W |
管電壓 | 15~40kV,1kV/Step | |
管電流 | 5~15mA,1mA/Step | |
管電壓、管電流穩(wěn)定度 | ≤0.01%(電源低壓浮動(dòng)10%) | |
測(cè)角儀 | 測(cè)角儀結(jié)構(gòu) | θ/2θ |
衍射光路幾何 | Bragg-Brentano / Debye-Scherrer 可切換 | |
測(cè)角儀半徑 | 150mm | |
掃描/照相角度范圍 | 0~90°(θ) ; -3~150°(2θ) | |
工作方式 | 單幀/多幀曝光 | |
2θ角重復(fù)精度 | ≤±0.001° | |
測(cè)量準(zhǔn)確度 | ±0.02° | |
探測(cè)器 | 類型 | 混合像素光子計(jì)數(shù)半導(dǎo)體探測(cè)器 |
像素尺寸 | 70×70μm2 | |
單片面積 | 20.1×20.1mm2 | |
噪聲 | ||
能量分辨率 | 1keV | |
數(shù)量 | BRAGG 110-11片 | |
最大線性計(jì)數(shù) | 2.6×106cps/pixel | |
機(jī)柜 | 機(jī)柜尺寸(mm) | (長(zhǎng))770×(寬)520×(高)800 |
整機(jī)重量(kg) | 135 | |
輻射劑量 | ≤0.2μSv/h(未扣除天然本底) | |
安全措施 | 門聯(lián)鎖保護(hù)/功率保護(hù)/過熱保護(hù) | |
濾波器 | Ni濾片 | 對(duì)應(yīng)Cu靶 |
綜合指標(biāo) | 整機(jī)綜合穩(wěn)定度 | ≤0.2% |
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